Współczesna metrologia.Zagadnienia wybrane

  • Dodaj recenzję:
  • 2096
  • Producent: WNT
  • Cena netto: 70,00 zł 73,50 zł
Współczesna metrologia.Zagadnienia wybrane, praca zbiorowa, rok: 2007, ISBN: 978-83-204-3353-1, liczba stron: 574, format: B5, Wydawnictwo Naukowo-Techniczne WNT

Książka Współczesna metrologia. Zagadnienia wybrane jest pracą zbiorową 9 autorów i składa się z 7 rozdziałów - 1 wprowadzającego i 6 merytorycznych. Omówiono w niej ważne współczesne problemy metrologii: rolę metrologii w procesie poznania, ocenę niepewności pomiarów, metody planowania eksperymentów, sieci neuronowe i ich zastosowania w metrologii, interferometrię laserową oraz systemy pomiarowe. Informacyjne podejście do wszystkich tematów nadaje spójność tej monografii. Wydobywanie i przetwarzanie ilościowej informacji o zjawiskach lub obiektach wchodzi w zakres technologii informacyjnej, współcześnie niesłychanie ważnej, biorąc pod uwagę rozwój techniki i edukacji społeczeństwa informacyjnego XXI w. Autorzy monografii wywodzą się z grona najwybitniejszych w kraju specjalistów z danej dziedziny, co stanowi gwarancję wysokiego poziomu naukowego dzieła (Politechnika Gdańska, Krakowska, Poznańska, Warszawska, Wrocławska, WAT). Książka będzie użyteczna dla doktorantów, wykładowców uczelni technicznych, naukowców, inżynierów różnych branż techniki, a także studentów uczelni technicznych. 

Spis treści:

Rozdział 1
Wprowadzenie
1.1. Pomiar - nieodłączny element życia
1.2. Metrologia a miernictwo
1.3. Techniki pomiarowe wieku XX i początku XXI
1.4. Geneza monografii
1.5. Wybór tematyki monografii
Rozdział 2
Metrologia w procesie poznania
2.1. Wprowadzenie
2.2. Realia postrzeganej rzeczywistości
2.3. Opis cech materii
2.4. Zasada przyczynowości
2.5. Determinizm i indeterminizm
2.6. Elementy pojęciowe mechaniki kwantowej
2.7. Przyczynowość a indeterminizm w metrologii
2.8. Modelowanie i symulacja w procesie poznania
2.9. Proces poznawczy w metrologii
2.10.Zakończenie
Rozdział 3
Dokładność oceny niepewności i dokładność systemów pomiarowych
3.1. Dokładność oceny niepewności rozszerzonej
3.2. Dokładność systemów pomiarowych
Rozdział 4
Badania empiryczne - metodyka i wspomaganie komputerowe
4.1. Pojęcie i rola badań empirycznych
4.2. Elementy stosowanej teorii eksperymentu
4.3. Komputerowe wspomaganie planowania i analizy eksperymentu
4.4. Inteligentne systemy planowania eksperymentu
Rozdział 5
Sztuczne sieci neuronowe w metrologii
5.1. Wprowadzenie
5.2. Sieci jednokierunkowe terenowe z nauczycielem
5.3. Sieci samoorganizujące się
5.4. Sieci neuronowe rozmyte
5.5. Problemy implementacji VLSI sieci neuronowych
5.6. Przykłady zastosowań sieci neuronowych w metrologii
5.7. Wnioski końcowe
Rozdział 6
Wybrane problemy metrologii optoelektronicznej (polowa interferometria laserowa)
6.1. Wstęp
6.2. Zautomatyzowane metody analizy interferogramów
6.3. Systemy interferometryczne
6.4. Zintegrowane systemy pomiarowe
6.5. Koncepcja eksperymentalno-numerycznych metod hybrydowych
6.6. Podsumowanie
Rozdział 7
Systemy pomiarowe
7.1. Wstęp
7.2. Mikrosystemy
7.3. Rozproszone systemy pomiarowe
7.4. Internet w metrologii
7.5. Prognoza rozwoju
Skorowidz